Применение патентной аналитики на разных стадиях готовности НИОКР для снижения рисков
Аннотация
В настоящей статье раскрывается, как различные аспекты патентной аналитики могут применяться на разных стадиях НИОКР. Отмечается, что патентная аналитика хорошо решает задачи выявления и снижения рисков, сопровождающих процесс исследования. не ограничиваясь этим, авторы статьи обращают внимание на то, что снижение рисков и неопределенности вокруг научно-исследовательского проекта является одним из ключевых аспектов успешного завершения исследований.
Ключевые слова
патентная аналитика,
управление технологиями,
анализ технологий,
сопровождение НИОКР,
управление рисками,
снижение неопределенности
При поддержке: Исследование выполнено в рамках НИР «Разработка целевой модели скаутинга технологий, разработка математического и программного обеспечения скаутинга технологий с использованием патентной аналитики», рег. № 123032700023–1.
Об авторах
Ф. А. Батанов
ФГБУ ФИПС
Россия
Россия
Батанов Федор Александрович, начальник Проектного офиса Федерального института промышленной собственности
Д. И. Сергейчик
ФГБУ ФИПС
Россия
Россия
Сергейчик Дарья Игоревна, ведущий аналитик Проектного офиса Федерального института промышленной собственности
Список литературы
1. Fiorentino R., Longobardi S., Scaletti A. The early growth of start-ups: innovation matters. Evidence from Italy // EJIM. 2021. Т. 24. № 5. С. 1525–1546.
2. Management von Innovation und Risiko: Quantensprünge in der Entwicklung erfolgreich managen; mit 13 Tabellen / под ред. O. Gassmann. Berlin Heidelberg: Springer, 2006. Вып. 2, überarb. Aufl. 579 с.
3. Wang J., Lin W., Huang Y. – H. A performance-oriented risk management framework for innovative R&D projects // Technovation. 2010. Т. 30. № 11–12. С. 601–611.
4. OECD. Frascati Manual 2015: Guidelines for Collecting and Reporting Data on Research and Experimental Development: OECD, 2015.
5. Майнцер Клаус Технологический форсайт и сбалансированное инновационное развитие c точки зрения сложных динамических систем // Форсайт. 2020. № 4. URL: https://cyberleninka.ru/article/n/tehnologicheskiy-forsayt-i-sbalansirovannoe-innovatsionnoe-razvitie-c-tochki-zreniya-slozhnyh-dinamicheskih-sistem.
6. Amoroso S., Moncada-Paternò-Castello P., Vezzani A. R&D profitability: the role of risk and Knightian uncertainty // Small Bus Econ. 2017. Т. 48. № 2. С. 331–343.
7. Del Caño A., De La Cruz M. P. Integrated Methodology for Project Risk Management // J. Constr. Eng. Manage. 2002. Т. 128. № 6. С. 473–485.
8. Dillerup R., Kappler D., Oster F. Improving the Management of Innovation Risks – R&D Risk Assessment for Large Technology Projects // JMS. 2018. Т. 9. № 1. С. 31.
9. Geissdoerfer M. и др. Prototyping, experimentation, and piloting in the business model context // Industrial Marketing Management. 2022. Т. 102. С. 564–575.
10. Ya-li, L. (2010). Study on the Development of Chewing Tobacco Products Based on Patent Information Analysis. Journal of Anhui Agricultural Sciences.
11. Kim J. – W. A Study on Patent Information Analysis on Beauty Tech Technology // J Korean Soc Cosmetol. 2022. Т. 28. № 5. С. 1135–1143.
12. Wei S. X. и др. Identifying grey-rhino in eminent technologies via patent analysis // Journal of Data and Information Science. 2023. Т. 8. № 1. С. 47–71.
13. Ena O. “Domain-specific” patent analytics: Focus on company’s technology priorities // World Patent Information. 2021. Т. 65. С. 102037.
14. Zhang L., Liu Z. Research on technology prospect risk of high-tech projects based on patent analysis // PLoS ONE. 2020. Т. 15. № 10. С. e0240050.
15. Батанов, Ф. А. Углубленный анализ технологий в патентах / Ф. А. Батанов, Н. В. Зеленкина, А. А. Бачурина // Интеллектуальная собственность. Промышленная собственность. – 2020. – № S. – С. 75–81. – EDN LVFPZG.
16. Зеленкина, Н. Современная практика патентной аналитики / Н. Зеленкина, Д. Павликова, Ф. Батанов // Интеллектуальная собственность. Промышленная собственность. – 2019. – № 6. – С. 15–24. – EDN AQOASR.
17. National Aeronautics and Space Administration, NASA Headquarters, Systems Engineering Handbook, NASA/SP-2007–6105 Rev1, Washington, D.C. 20546, December 2007.
18. Directorate of State Scientific and Technical Programmes и др. scientific and technical projects using Technology Project Readiness Level // ES. 2016. Т. 2. № 4. С. 244–260.
Рецензия
Для цитирования:
Батанов Ф.А., Сергейчик Д.И. Применение патентной аналитики на разных стадиях готовности НИОКР для снижения рисков. Вестник ФИПС. 2023;2(3):23-33.
For citation:
Batanov F., Sergejchik D. Use of patent analytics at different stages of NIOKR readiness to mitigate risks. Bulletin of Federal institute of industrial property. 2023;2(3):23-33. (In Russ.)
Просмотров:
23
JATS XML
Послать статью по эл. почте 