Для цитирования:

Батанов Ф.А., Сергейчик Д.И. Применение патентной аналитики на разных стадиях готовности НИОКР для снижения рисков. Вестник ФИПС. 2023;2(3):23-33.

For citation:

Batanov F., Sergejchik D. Use of patent analytics at different stages of NIOKR readiness to mitigate risks. Bulletin of Federal institute of industrial property. 2023;2(3):23-33. (In Russ.)