Для цитирования:

Ена О.В. Радары для многопараметрической оценки технологий. Сценарии патентной аналитики. Вестник ФИПС. 2024;3(1):12-29.

For citation:

Ena O.V. Radars for multi-parameter technology assessment. Patent analytics scenarios. Bulletin of Federal institute of industrial property. 2024;3(1):12-29. (In Russ.)